國內外專利（期間於五年內）發明專利120件（10件美國專利、2件歐盟專利、2件日本專利、2件大陸專利、1件韓國專利），21件新型專利
| 項次 | 專利 |
| D-1. | 發明專利名稱：“激光直寫式納米週期性結構圖案製造設備“，大陸發明專利ZL 2011 1 0170522.2，專利權始日20140625，發明人：覺文郁、沈金鐘、楊錦添、劉建宏、朱朝居、吳家鴻、黃俊傑、段黎黎、李源欽 |
| D-2. | 發明專利名稱：“一種多軸工具機量測裝置“，大陸發明專利ZL 2010 1 0259753.6，專利權始日20130904，發明人：覺文郁、劉建宏、徐東暉、許家銘 |
| D-3. | 發明專利名稱：“OPTICAL PARALLELISM MEASUREMENT DEVICE光學檢測平行度裝置“，美國發明專利US 8,477,321 B2，專利權始日20130702，發明人：覺文郁、吳家鴻、鄧雲峰 |
| D-4. | 發明專利名稱：“Auto-scraping apparatus仿真式自動鏟花裝置“，美國發明專利US 8,459,079 B2，專利權始日20130611，發明人：蔡穎堅、李家豪、李政男、覺文郁 |
| D-5. | 發明專利名稱：“Optical Calibration and Testing Device for Machine Tools光學式機台校正檢測裝置“，美國發明專利US 8,542,358 B2，專利權始日20130924，發明人：覺文郁、吳家鴻、陳怡靜、徐東暉、枋仁傑、楊登宇 |
| D-6. | 發明專利名稱：“ASSEMBLY FOR A MULTI-AXIS MACHINE TOOL多軸工具機量測裝置“，歐盟發明專利EP 2340914 B1，專利權始日20121226，發明人：覺文郁、劉建宏、徐東暉、許家銘 |
| D-7. | 發明專利名稱：“ASSEMBLY FOR A MULTI-AXIS MACHINE TOOL多軸工具機量測裝置“，日本發明專利5038481，專利權始日20120713，發明人：覺文郁、劉建宏、徐東暉 、許家銘 |
| D-8. | 發明專利名稱：“MANUFACTURING-PROCESS EQUIPMENT雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備“，日本發明專利5449263，專利權始日20140110，發明人：覺文郁、沈金鐘、吳家鴻 |
| D-9. | 發明專利名稱：“DETECTING ASSEMBLY FOR A MULTI-AXIS MACHINE TOOL多軸工具機量測裝置”，美國專利局專利核定發明第US 7,852,478 B1號，專利權始日20101214，發明人：覺文郁,劉建宏,徐東暉,許家銘 |
| D-10. | 發明專利名稱：“MANUFACTURING-PROCESS EQUIPMENT雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備“，美國發明專利US 8575791 B2，專利權始日20131105，發明人：覺文郁、沈金鐘、楊錦添、劉建宏、朱朝居、吳家鴻、黃俊傑、段黎黎、李源欽 |
| D-11. | 發明專利名稱：“MANUFACTURING-PROCESS EQUIPMENT雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備“，歐盟發明專利EP 2541323 B1，專利權始日20130605，發明人：覺文郁、沈金鐘、吳家鴻 |
| D-12. | 發明專利名稱：“MANUFACTURING-PROCESS EQUIPMENT雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備“，韓國發明專利10-1350760，專利權始日20140107，發明人：覺文郁、沈金鐘、吳家鴻 |
| D-13. | 發明專利名稱：“Geometric error measuring device幾何誤差檢測裝置”，美國專利局專利核定發明第US 8,325,333 B2號，專利權始日20121204，發明人：覺文郁,楊登宇,徐東暉 |
| D-14. | 發明專利名稱：“AUTOMATIC SCAN AND MARK APPARATUS鏟配件表面檢測及快速彩色記號標註裝置及方法”，美國專利局專利核定發明第US 8,111,405 B2號，專利權始日20120207，發明人：覺文郁,劉建宏,王泓澍,陳博韋,楊俊嘉,蔡偉成,張維中,江明冀,陳嘉宏 |
| D-15. | 發明專利名稱：“Static/Dynamic Multi-Function Measuring Device For Linear Unit線性滑軌靜動態多功能測試機”，美國專利局專利核定發明第US 7,636,170 B1號，專利權始日20091222，發明人：覺文郁,劉建宏 |
| D-16. | 發明專利名稱：“Meas for Measuring a Working Machine΄s Structural Deviation from Five Reference Axes一種五軸工具機檢測裝置”，美國專利局專利核定發明第US 7,773,234 B2號，專利權始日20100810，發明人：覺文郁,劉建宏,李羿宗,謝東賢,徐東暉,王泓澍 |
| D-17. | 發明專利名稱：“METHOD OF DETECTING A DYNAMIC PATH OF A FIVE-AXIS MACHINE TOOL AND DECTECTING ASSEMBLY FOR THE SAME五軸工具機動態路徑檢測方法及其裝置”，美國專利局專利核定發明第號US 8,116,902 B2，專利權始日20120214 ，發明人：劉建宏,覺文郁,李羿宗 |
| D-18. | 發明專利名稱：“旋轉軸角度輔助定位量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I569916號， 發明人：覺文郁;徐東暉;許家銘;邱瀞瀅;張祐維 |
| D-19. | 發明專利名稱：“角度誤差修正裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I569917號， 發明人：覺文郁;徐東暉;許家銘;邱瀞瀅;張祐維 |
| D-20. | 發明專利名稱：“奈米級光學對位及壓印調平裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I527676號， 發明人：覺文郁;沈金鐘;謝東賢;吳家鴻;陳俊仁 |
| D-21. | 發明專利名稱：“多面鏟花加工裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I485035號， 發明人：覺文郁 ;林博正 ;蔡穎堅 ;王彥傑 ;謝東賢 ;楊登宇 |
| D-22. | 發明專利名稱：“固定座的檢測與加工裝置及其作業方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I483804號， 發明人：覺文郁;謝東賢 ;陳嘉宏 ;謝明松 ;王彥傑 |
| D-23. | 發明專利名稱：“垂直度與平行度檢測系統及其檢測方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I472712號， 發明人：覺文郁;鄧雲峰;謝東賢;陳冠吾 |
| D-24. | 發明專利名稱：“鏟花數值控制加工方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I450787號， 發明人：覺文郁;謝東賢;陳嘉宏;黃金輝 ;王彥傑;蔡穎堅 |
| D-25. | 發明專利名稱：“鏟花刀具磨耗檢測方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I447388號， 發明人：覺文郁;王明習;謝東賢;林育佐 |
| D-26. | 發明專利名稱：“往復式自動鏟花裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I440517號， 發明人：覺文郁 ;謝東賢;陳嘉宏;黃金輝;蔡穎堅;王彥傑 |
| D-27. | 發明專利名稱：“混合式六自由度奈米級精密定位平台系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I425334號， 發明人：覺文郁;沈金鐘;劉建宏;吳家鴻;盧群中;余英代 |
| D-28. | 發明專利名稱：“雙光柵訊號量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I414756號， 發明人：覺文郁;劉建宏;鄧雲峰;陳柏宇 |
| D-29. | 發明專利名稱：“鏟配件表面檢測及快速彩色記號標註裝置及方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I411762號， 發明人：覺文郁;王泓澍;陳博韋;楊俊嘉;江明冀;蔡偉成;張維中;陳嘉宏 |
| D-30. | 發明專利名稱：“光學檢測平行度裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I411765號， 發明人：覺文郁;吳家鴻;陳怡靜;鄧雲峰;李健誌;楊登宇 |
| D-31. | 發明專利名稱：“二自由度奈米級壓電對位平台機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I410295號， 發明人：覺文郁;劉建宏;鄧雲峰;陳柏宇 |
| D-32. | 發明專利名稱：“仿真式自動鏟花裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I408021號， 發明人：蔡穎堅 ;李家豪;李政男;覺文郁 |
| D-33. | 發明專利名稱：“光學式機台校正檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I405950號， 發明人：覺文郁;吳家鴻;陳怡靜;徐東暉;枋仁傑;楊登宇 |
| D-34. | 發明專利名稱：“用於精密機具之球形透鏡檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I404910號， 發明人：覺文郁;徐東暉;劉建宏;林子豪;林玉山 |
| D-35. | 發明專利名稱：“雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I405049號， 發明人：覺文郁;沈金鐘;楊錦添;劉建宏;朱朝居;吳家鴻;黃俊傑;段黎黎;李源欽 |
| D-36. | 發明專利名稱：“五軸工具機動態路徑檢測方法及其裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I405057號， 發明人：劉建宏,覺文郁,李羿宗 |
| D-37. | 發明專利名稱：“迴轉式自動鏟花裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I402124號， 發明人：蔡穎堅 ;郭尉弘;李政男;覺文郁 |
| D-38. | 發明專利名稱：“一種應用分光束檢測取放機構多軸誤差之裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I401420號， 發明人：覺文郁;劉建宏;徐東暉;林玉山;段黎黎 |
| D-39. | 發明專利名稱：“一種應用單光源檢測取放機構定位及角度誤差之裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I401554號， 發明人：覺文郁;劉建宏;徐東暉;林玉山;段黎黎 |
| D-40. | 發明專利名稱：“雷射干涉儀檢測角度誤差之裝置與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I398622號， 發明人：覺文郁;楊登宇;劉建宏;徐東暉;陳怡靜 |
| D-41. | 發明專利名稱：“直度誤差量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I398877號， 發明人：劉建宏;覺文郁;黃俊堯 |
| D-42. | 發明專利名稱：“一種量測透明基板厚度與折射率之架構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I390174號， 發明人：劉建宏;覺文郁;游信和;黃偉銓;鄭仲翔;張皓雯;葉冠宏;劉忠侑 |
| D-43. | 發明專利名稱：“一種線性摩擦阻力量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I390198號， 發明人：覺文郁;劉建宏;鄧雲峰;謝東賢;蔡承鴻;馮哲緒;陳欣政 |
| D-44. | 發明專利名稱：“幾何誤差檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I388795號， 發明人：覺文郁;楊登宇;徐東暉 |
| D-45. | 發明專利名稱：“一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I388030號， 發明人：覺文郁;劉建宏;徐東暉;林玉山;段黎黎 |
| D-46. | 發明專利名稱：“導螺桿及螺帽牙型非接觸式量測方法及其裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I385355號， 發明人：覺文郁;劉建宏;段黎黎;黃學良;吳佳泰 |
| D-47. | 發明專利名稱：“一種應用單光源於取放機構檢測X軸定位誤差與Y軸定位誤差之裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I384196 號， 發明人： 覺文郁;劉建宏;徐東暉;林玉山;枋仁傑;楊敏得;段黎黎 |
| D-48. | 發明專利名稱：“應用雷射光源掃描鏟花表面的裝置與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I383125號， 發明人：覺文郁;劉建宏;王泓澍;吳家鴻;陳博韋;蔡偉成;張維中;李孟澤 |
| D-49. | 發明專利名稱：“一種壓印平台對準與調平的量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I383466 號， 發明人：覺文郁;劉建宏;陳宏光;謝東賢;鄧雲峰 |
| D-50. | 發明專利名稱：“兩段式長行程奈米級精密定位系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I379732號， 發明人：覺文郁;劉建宏;沈金鐘;林博正;吳家鴻;段黎黎;謝東賢;謝東興;陳怡靜;枋仁傑 |
| D-51. | 發明專利名稱：“鏟配件表面檢測及自動化品質檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I379988 號， 發明人：覺文郁;王泓澍;陳博韋;楊俊嘉;江明冀;蔡偉成;張維中;陳嘉宏 |
| D-52. | 發明專利名稱：“具有取樣原點設定功能之掃描裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I379989 號， 發明人：覺文郁;王泓澍;陳博韋;楊俊嘉;江明冀;蔡偉成;張維中;陳嘉宏 |
| D-53. | 發明專利名稱：“多軸工具機量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I378843號， 發明人：覺文郁;劉建宏;徐東暉;許家銘 |
| D-54. | 發明專利名稱：“一種非接觸式振動量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I372857號， 發明人：覺文郁;劉建宏;謝東賢;鄧信豪;鄧雲峰;陳欣政;蔡承鴻 |
| D-55. | 發明專利名稱：“滾珠螺桿之哥德式螺紋接觸角測量方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I366660號，專利權始日20120621專利權止日20280623，發明人：劉育君;覺文郁;陳俊仁
D-56. 發明專利名稱：“一種線性移動單元靜力矩量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I361886號，專利權始日20120411專利權止日20280130，發明人：覺文郁 ;劉建宏 ;鄧雲峰 ;謝東賢 ;蔡承鴻 ;馮哲緒 ;陳欣政 |
| D-57. | 發明專利名稱：“光電式六自由度量測系統ONE COMPLEX 6 DEGREE OF FREEDOM OPTOELECTRONIC MEASUREMENT SYSTEM”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I348537號，專利權始日20110911專利權止日20270422，發明人：卓信鴻 JWO, HSIN HUNG;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;林昌進 LIN, PSANG DAIN ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ; |
| D-58. | 發明專利名稱：“高承載線性滑軌結構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I357470號，專利權始日20120201專利權止日20290225，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH;蔡穎堅 TSAI, YING CHIEN;林博正 LIN, BOR JENG;王泓澍 WANG, HUNG SHU;林忠民LIN, CHUNG MING;李政男 LEE, JENG NAN |
| D-59. | 發明專利名稱：“一種應用於透明體與反射體間之平行量測裝置與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I345624號，專利權始日20110721專利權止日20270627，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG;覺文郁 JYWE, WEN YUH;葉憲昌 ;王智鵬 ;鄭舒壕 ;劉兆恒 ;林塏璋 ;趙晚君 ;鄭宗賢 ; |
| D-60. | 發明專利名稱：“一種五軸工具機檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I340679號，專利權始日20110421專利權止日20280826，發明人：覺文郁 ;劉建宏 ;李羿宗 ;謝東賢 ;徐東暉 ;楊登宇 |
| D-61. | 發明專利名稱：“線性滑軌行走平行度量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I326746號，發明人：覺文郁 ;劉建宏 ;謝東賢 ;鄧雲峰
D-62. 發明專利名稱：“一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I326630號，專利權始日 20100701專利權止日 20280325，發明人：覺文郁 ;劉建宏 ;徐東暉 ;鄭友仁 ;李羿宗 |
| D-63. | 發明專利名稱：“一種用於三維空間定位性能檢測、三維循軌及任意軸直度量測之雷射陣列量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I323685號，專利權始日 20100421專利權止日 20270419，發明人：卓信鴻 JWO, HSIN HUNG;覺文郁 JYWE, WEN YUH;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN;李俊憲 LEE, CHUN HSIEN |
| D-64. | 發明專利名稱：“一種繞射式六自由度光電量測系統ONE DIFFRACTION 6 DEGREE OF FREEDOM OPTOELECTRONIC MEASUREMENT SYSTEM”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I320480號，專利權始日 20100211專利權止日 20270422，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH;林昌進 LIN, PSANG DAIN;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN;楊登宇 YANG, TENG YU;卓信鴻 JWO, HSIN HUNG |
| D-65. | 發明專利名稱：“一種利用多重反射原理所建立的光電式六自由度量測系統ONE OPTOELECTRONIC 6 DEGREE OF FREEDOM MEASUREMENT SYSTEM BASED MULTI-REFLECTION PRINCIPLE”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I320479號，專利權始日 20100211專利權止日 20270422，發明人：卓信鴻 JWO, HSIN HUNG;覺文郁 JYWE, WEN YUH;林昌進 LIN, PSANG DAIN;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN;楊登宇 YANG, TENG YU |
| D-66. | 發明專利名稱：“一種二維光電式高精度角度量測系統A TWO DIMENSIONAL OPTOELECTRONIC HIGH ACCURATE ANGLE MEASUREMENT SYSTEM”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I320478號，專利權始日 20100211專利權止日 20270422，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH;林昌進 LIN, PSANG DAIN;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN;李俊憲 LEE, CHUN HSIEN |
| D-67. | 發明專利名稱：“應用像散法於透明體與半透明體厚度檢測之系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I318681號，專利權始日 20091221專利權止日 20270213，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG;覺文郁 JYWE, WEN YUH;方得華 ;姬梁文 ;李宗翰 ;葉憲昌 |
| D-68. | 發明專利名稱：“散熱座”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I315781號，專利權始日 20091011專利權止日 20270514，發明人：曾憲中 ;覺文郁 JYWE, WEN YUH;劉建宏 LIU, CHIEN HONG;方得華 ;王衍展 |
| D-69. | 發明專利名稱：“全電式奈米壓印器”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I312730號，專利權始日 20090801專利權止日 20270417，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳財源 ;陳睿宏 ;趙晚君 ;林塏璋 ;張智皓 ;劉兆恆 ;黃瀚興 ;鄭舒壕 ;鄭宗賢 |
| D-70. | 發明專利名稱：“一種利用原子力顯微鏡為基台進行拉伸試驗的裝置與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I302984號，專專利權始日 20081111專利權止日 20260503，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;方得華 ;姫梁文 ;陳朝貴 |
| D-71. | 發明專利名稱：“一種奈米級三自由度微動平台機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I300733號，專利權始日 20080911專利權止日 20260815，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;李羿宗 ;徐東暉 ;王泓澍 ;鄭友仁 JENG, YEAU REN |
| D-72. | 發明專利名稱：“非接觸式之雙向雷射探針”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I292817號，專利權始日 20080121專利權止日 20261031，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;方得華 ;姫梁文 ;陳朝貴 ;王智鵬 ;黃偉銓 ;陳昭帆 ;廖宗偉 |
| D-73. | 發明專利名稱：“一種檢測五自由度誤差系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I292816號，專利權始日 20080121專利權止日 20260713，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;謝奇辰 ;謝東賢 ;洪晨學 ;黃畯豪 ;徐東暉 ;方得華 |
| D-74. | 發明專利名稱：“高精度兩段式三角雷射共焦探頭”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I290211號，專利權始日20071121專利權止日20261031，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;方得華 ;姫梁文 ;陳朝貴 ;王智鵬 ;劉建平 ;王裕翔 ;陳揚東 |
| D-75. | 發明專利名稱：“一種雙光束雷射干涉儀檢測直度誤差之系統與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I287617號，專利權始日 20071001專利權止日 20260815，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;李孟謙 ;徐東暉 ;方得華 ;鄭友仁 JENG, YEAU REN |
| D-76. | 發明專利名稱：“一種高精度奈米級旋轉軸誤差量測方法與裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I287616號，專利權始日 20071001專利權止日 20260713，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;方得華 ;姫梁文 ;黃學良 HUANG, HSUEH LIANG ;吳星助 ;王泓澍 |
| D-77. | 發明專利名稱：“一種利用光學像散原理應用於自由曲面之量測系統與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I287614號，專利權始日 20071001專利權止日 20260815，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;王智鵬 ;姫梁文 ;方得華 |
| D-78. | 發明專利名稱：“雙軸六自由度振動量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I287613號，專利權始日 20071001專利權止日 20260815，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;姫梁文 ;謝東賢 ;王泓澍 ;謝奇辰 ;徐東暉 ;方得華 |
| D-79. | 發明專利名稱：“一種高精度旋轉軸熱變形量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I285254號，專利權始日 20070811專利權止日 20260704，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;鄧雲峰 TENG, YUN FENG ;邱昌田 ;王泓樹 |
| D-80. | 發明專利名稱：“利用貓眼反射器量測旋轉軸誤差裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I283736號，專利權始日 20070711專利權止日 20260625，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;林益新 ;黃學良 HUANG, HSUEH LIANG |
| D-81. | 發明專利名稱：“一種利用雷射及位置感測器所建立之鑽孔、攻牙量測裝置A DRILLING AND TAPPING MEASUREMENT DEVICE BY USING LASER AND POSITION SENSORS”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I283616號，專利權始日 20070711專利權止日 20240531，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;陳裕傑 ;林益有 |
| D-82. | 發明專利名稱：“一種利用繞射原理之光學式水平量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I274140號，專利權始日 20070221專利權止日 20250412，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;林昌進 ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;林冠宇 ;李俊憲 ;賴建名 |
| D-83. | 發明專利名稱：“即時量測平台角度誤差之光學式量測單元及其方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I274139號，專利權始日 20070221專利權止日 20260313，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;謝奇辰 ;徐東暉 |
| D-84. | 發明專利名稱：“一種應用角隅稜鏡與四象限感測器建立奈米級解析度之三軸振動量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I271513號，專利權始日 20070121專利權止日 20250922，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;謝東賢 ;謝奇辰 |
| D-85. | 發明專利名稱：“一種利用反射原理之光學式水平量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I270659號，專利權始日 20070111專利權止日 20250412，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;林昌進 ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;賴建名 ;林冠宇 ;李俊憲； |
| D-86. | 發明專利名稱：“一種雙軸五自由度量測裝置與方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I263036號，專利權始日 20061001專利權止日 20250621，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN |
| D-87. | 發明專利名稱：“微動機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I262117號，專利權始日 20060921專利權止日 20220220，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;吳家鴻 ;徐錦衍 ;盧丙晏 ;邱仁志 ;蔡尚谷 |
| D-88. | 發明專利名稱：“即時量測真圓度量測儀誤差之量測裝置及補償方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I261663號，專利權始日 20060911專利權止日 20210710，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN |
| D-89. | 發明專利名稱：“一種奈米級旋轉軸誤差量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I260394號，專利權始日 20060821專利權止日 20250823，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN |
| D-90. | 發明專利名稱：“一種繞射式角定位多自由度量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I249610號，專利權始日 20060221專利權止日 20240629，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;林民彰 ;莊哲豪 |
| D-91. | 發明專利名稱：“一種繞射式角定位五自由度量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I249609號，專利權始日20060221專利權止日20240629，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;李龍添 LI, LUNG TIEN |
| D-92. | 發明專利名稱：“一種光學式旋轉軸誤差量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I247095號，專利權始日20060111專利權止日20240629，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;林益新 ;李龍添 LI, LUNG TIEN |
| D-93. | 發明專利名稱：“一種線性雙軸幾何誤差之量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I245878號，專利權始日20051221專利權止日20240629，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;黃學良 HUANG, HSUEH LIANG |
| D-94. | 發明專利名稱：“一種利用位置感測器平板所建立之工具機量測裝置A MACHINE TOOL MEASUREMENT DEVICE WHICH IS USING POSITION SENSORS”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I245877號，專利權始日20051221專利權止日20240518，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;陳裕傑 ;林益有 |
| D-95. | 發明專利名稱：“繞射式三角雷射讀頭及其檢測誤差之方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I243888號，專利權始日20051121專利權止日20240411，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HUNG ;陳朝貴 CHEN, CHAU GUEI ;蔣仲智CHIANG, CHUNG J ;孫堅哲 SUEN, JIAN CHE ;陳孟君 CHEN, MENG JIUN ;林宏鎰 LIN, HONG I |
| D-96. | 發明專利名稱：“一種可檢測高速循軌性能裝置ONE MEASUREMENT DEVICE FOR HIGH-SPEED CONTOURING TESTING”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I243886號，專利權始日20051121專利權止日20241013，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;林民彰 ;莊哲豪 |
| D-97. | 發明專利名稱：“一種穿透式光柵量測旋轉軸誤差之裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I239385號，專利權始日20050911專利權止日20231014，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;連志瑋 LIEN, CHIH WEI ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG |
| D-98. | 發明專利名稱：“奈米級五軸共平面微動平台”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I238752號，專利權始日20050901專利權止日20240411，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;吳家鴻 WU, CHIA HONG ;鄧雲峰 DENG, YUN FENG |
| D-99. | 發明專利名稱：“微型主軸迴轉精度量測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I235233號，專利權始日20050701專利權止日20240609，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HUNG ;李浩瑋 |
| D-100. | 發明專利名稱：“一種用光學尺量測技術結合原子力探針在二維平面量測的裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I235228號，專利權始日20050701專利權止日20230330，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;林榮慶 ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;周敬棠 ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN |
| D-101. | 發明專利名稱：“單軸六自由度光學量測系統及方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I232923號，專利權始日20050521專利權止日20231230，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HUNG ;徐承駿 HSU, CHENG CHUN |
| D-102. | 發明專利名稱：“使用四象儀與雷射二極體之三維振動位移量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I231365號，專利權始日20050421專利權止日20231002，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;周敬棠 |
| D-103. | 發明專利名稱：“一種奈米級雙軸輪廓量測裝置A NANO-SCALED TWO-AXIS CONTOURING MEASURING SYSTEM”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I224188號，專利權始日20041121專利權止日20231023，發明人：覺文郁JYWE, WEN YUH ;鄧雲峰 TENG, YUN FENG |
| D-104. | 發明專利名稱：“一種反射式光柵量測旋轉軸誤差裝置與方法A DEVICE AND METHOD OF REFLECTIVE DIFFRACTION GRATING MEASURE REVOLVING SPINDLE”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第I220688號，專利權始日20040901專利權止日20231014，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;連志瑋 LIEN, CHIH WEI |
| D-105. | 發明專利名稱：“一種負荷切削下數値工具機動態性能測試機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第205592號，專利權始日20040611專利權止日20210328，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;詹國鑫 CHUN, KWU SHIN ;朱建興 CHU, CHIEN SHIN |
| D-106. | 發明專利名稱：“一種簡易的玻璃厚度的量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第206083號，專利權始日20040611專利權止日20231014，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;連志瑋 LIEN, CHIH WEI ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG |
| D-107. | 發明專利名稱：“可量測五自由度訊號系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第205945號，專利權始日20040611專利權止日20230330，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;李龍添 LI, LUNG TIEN ;林榮慶 ;蔡銘焜 |
| D-108. | 發明專利名稱：“一種使用光柵式干涉儀之三維量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第202600號，專利權始日20040521專利權止日20230528，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;李龍添 LI, LUNG TIEN |
| D-109. | 發明專利名稱：“一種利用光柵繞射原理所建立之四自由度量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第201880號，專利權始日20040501專利權止日20230330，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;陳俊仁 CHEN, CHUN JEN ;陳朝貴 CHEN, CHAU GUEI |
| D-110. | 發明專利名稱：“一種以二維光學尺作六自由度量測的系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第201878號，專利權始日20040501專利權止日20230326，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;鄧雲峰 TENG, YUN FENG ;徐東暉 ;周敬棠 ;鄭凱安 |
| D-111. | 發明專利名稱：“一種五自由度環型光柵式旋轉軸量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第201877號，專利權始日20040501專利權止日20230326，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;林榮慶 ;鄧雲峰 TENG, YUN FENG ;鄭凱安 |
| D-112. | 發明專利名稱：“一種利用平面光學尺檢測六自由度平台誤差的方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第201367號，專利權始日20040421專利權止日20230326，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;徐東暉 ;周敬棠 ;鄭凱安 ;鄧雲峰 |
| D-113. | 發明專利名稱：“一種奈米級閉迴路四軸平台機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第200206號，專利權始日20040311專利權止日20211028，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH
D-114. 發明專利名稱：“使用光槓桿原理檢測旋轉軸誤差之方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第198700號，專利權始日20040221專利權止日20220307，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;鄭東堯 TUNG YAO CHENG ;陳健煌 JIANN HWANG CHEN ;劉俊昌CHUN CHANG LIU ;廖書仁 SHU JEN LIAO |
| D-115. | 發明專利名稱：“一種應用於線性編碼器的訊號傳輸裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第212275號，專利權始日20031001專利權止日20140619，，發明人：詹全安 ;覺文郁 ;賴子發 |
| D-116. | 發明專利名稱：“一種簡易檢測數値工具機體積誤差之方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第184594號，專利權始日20030811專利權止日20210701，發明人：覺文郁 ;賴子發 |
| D-117. | 發明專利名稱：“一種補償雷射二極體與四象儀量測系統之設定誤差的方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第181557號，專利權始日20030701專利權止日20220307，發明人：覺文郁 ;鄭東堯 ;陳健煌 ;劉俊昌 ;廖書仁 |
| D-118. | 發明專利名稱：“一種使用雷射二極體及四象儀檢測旋轉軸誤差之方法”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第172294號，專利權始日20030111專利權止日20210701，發明人：覺文郁 ;趙彥傑 ;謝明興 |
| D-119. | 發明專利名稱：“雷射內藏式量測連桿機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第169667號，專利權始日20030101專利權止日20210514，發明人：覺文郁 ;王永發 |
| D-120. | 發明專利名稱：“微米級真圓度測量儀之偏心補正機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第120289號，專利權始日20000901專利權止日20191110，發明人：覺文郁 ;楊耀仁 |
| D-121. | 新型專利名稱：“機器人校正系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M530737號，發明人：覺文郁;謝東賢 ;李在原;陳俊仁;謝東興;吳家鴻 |
| D-122. | 新型專利名稱：“工具機旋轉軸定位精度檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M516714號，發明人：覺文郁;謝東賢;陳明亮;謝東興;許家銘 ;張祐維 ;李在原 |
| D-123. | 新型專利名稱：“影像式多軸工具機校正系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M508389號， 發明人：覺文郁;謝東賢;陳俊仁;謝東興;李在原;陳明亮;林建安 |
| D-124. | 新型專利名稱：“鏟配磨潤特性檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M505366號， 發明人： 覺文郁 ;謝東賢 ;黃森億 ;陳暐霖 ;王彥傑 |
| D-125. | 新型專利名稱：“旋轉軸角度定位量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M500239號， 發明人： 覺文郁 ;徐東暉 ;許家銘 ;邱靜瀅 ;張祐維 |
| D-126. | 新型專利名稱：“應用多自由度機械手臂的鏟花裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M490934號， 發明人： 覺文郁 ;謝東賢 ;謝東興 ;陳嘉宏 ;黃金輝 ;王彥傑 ;陳建宏 ;謝明松 |
| D-127. | 新型專利名稱：“奈米級光學對位及壓印調平裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M485590號， 發明人： 覺文郁;沈金鐘;謝東賢;吳家鴻;陳俊仁 |
| D-128. | 新型專利名稱：“奈米壓電調整裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M460089號， 發明人： 覺文郁;沈金鐘;謝東賢;吳家鴻;陳柏宇;潘柏羽 |
| D-129. | 新型專利名稱：“工具機角度定位量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M458266 號， 發明人： 覺文郁;黃學良;黃緯辰 |
| D-130. | 新型專利名稱：“自動化鏟花工件表面之鏟花設備”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M452823號， 發明人： 覺文郁;蔡穎堅;林博正;李孟澤;王泓澍;謝東興;陳博韋;江明冀;陳嘉宏;黃金輝;謝東賢 |
| D-131. | 新型專利名稱：“固定座的檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M451193 號， 發明人：覺文郁;謝東賢;陳嘉宏;王彥傑;謝明松 |
| D-132. | 新型專利名稱：“應用雷射光源於三次元量床之掃描表面形貌檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M451525號， 發明人：覺文郁;謝東賢;陳嘉宏;王彥傑;謝明松 |
| D-133. | 新型專利名稱：“線性運動量測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M451528號， 發明人：覺文郁;黃學良;徐紹洋 |
| D-134. | 新型專利名稱：“機具背隙檢測裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M451537號， 發明人：覺文郁;張祐維;徐東暉;許家銘;紀慕丞 |
| D-135. | 新型專利名稱：“刀塔式自動鏟花裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M443583 號， 發明人：覺文郁;謝東賢;陳嘉宏;王彥傑;謝明松 |
| D-136. | 新型專利名稱：“工具機軌跡精度補償裝置”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M439537 號， 發明人：覺文郁;黃學良;卓明震
D-137. 新型專利名稱：“伺服馬達背係消除機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M324344號，專利權始日 20071221專利權止日 20170501，發明人：邱毓英 ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG |
| D-138. | 新型專利名稱：“對位機構”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M321342號，專利權始日 20071101專利權止日 20170501，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;邱毓英 |
| D-139. | 新型專利名稱：“奈米級旋轉軸誤差檢測系統”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M323050號，專利權始日 20071201專利權止日 20170503，發明人：劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;覺文郁 JYWE, WEN YUH ;林文祥 |
| D-140. | 新型專利名稱：“四驅動對位對準平台”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定新型第M319503號，專利權始日 20070921專利權止日 20170117，發明人：覺文郁 JYWE, WEN YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN HONG ;邱毓英 |
| D-141. | 新型專利名稱：“一種奈米級六軸重載重之微動系統a six-axis nano-stage”，中華民國經濟部智慧財產局專利核定發明第M253596號，專利權始日20041221專利權止日20121217，發明人：覺文郁 JYWE, WEN-YUH ;劉建宏 LIU, CHIEN-HONG ;李龍添 LI, LUNG-TIEN |